1. Test and diagnosis for small-delay defects
المؤلف: / Mohammad Tehranipoor, Ke Peng and Krishnendu Chakrabarty
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع: Integrated circuits--Very large scale integration--Defects,Integrated circuits--Very large scale integration--Testing,Delay faults (Semiconductors)
رده :
TK
,
7874
,.
T4323
,
2011
2. Test and diagnosis for small-delay defects
المؤلف: / Mohammad Tehranipoor, Ke Peng and Krishnendu Chakrabarty
المکتبة: المكتبة المركزية بجامعة تبريز و مركز التوثيق والنشر (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Integrated circuits--Very large scale integration--Defects,Integrated circuits--Very large scale integration--Testing,Delay faults (Semiconductors)
رده :
TK7874
.
T4323
2011
